型号：Keithley 4200半导体特性测试仪

  简介：4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样可以更快地开始分析测试结果。

主要用途/Application：

用于测量半导体与光电器件的I-V、C-V等特性曲线

直流电流-电压(I-V)范围：10 aA - 1A，0.2 µV - 210 V

电容-电压(C-V)范围：1 kHz - 10 MHz，±30V直流偏置

脉冲 I-V范围：±40 V (80 V p-p)，±800 mA，200 MSa/s，5 ns 采样率